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多态磁存储特性表征系统

针对 STT-MRAM、SOT-MRAM、VCMA-MRAM 等不同技术路线,提供可配置的测试架构。支持 Toggle 写入、热稳定性、读写 disturb、耐久性等全套磁电耦合特性提取,助力工艺迭代与器件优化。

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