晶圆级可靠性加速评估方案

基于 Arrhenius 模型的创新加速测试算法，将传统需要数月的可靠性验证压缩至数周。结合高灵敏磁畴成像与电学失效分析，提前识别潜在失效模式，降低量产风险。

• 基于 Arrhenius 模型的加速测试算法
• 可靠性验证周期由数月压缩至数周
• 高灵敏磁畴成像 + 电学失效分析
• 提前识别潜在失效模式，降低量产风险